Результаты поиска

Ключевое слово:сфокусированный ионный пучок со сканирующим электронным микроскопом

Российские исследователи выявили субмикронную структуру пор чернозёма с помощью ионно-лучевой сканирующей электронной микроскопии

Российские исследователи выявили субмикронную структуру пор чернозёма с помощью ионно-лучевой сканирующей электронной микроскопии

Исследователи Московского физико-технического института и их коллеги недавно провели детальную характеризацию микроструктуры образцов чернозёма с использованием сфокусированного ионного пучка со сканирующим электронным микроскопом (FIB-SEM). Исследование показало, что данная технология позволяет выявлять поры размером менее 1 микрона, их морфологию и отдельные органические компоненты в почве, что предоставляет новый инструмент наблюдения для понимания механизмов формирования и поддержания плодородия чернозёма. Работа выполнена при поддержке проекта Российского научного фонда и опубликована в 17-м выпуске «Вестника Московского университета», серия «Почвоведение». Почвенные исследования обычно требуют перехода от полевого масштаба к микроскопическому. Компьютерная томография (КТ) благодаря способности реконструировать трёхмерную структуру почвы без разрушения образца...

2026-08-03