Американская исследовательская группа обнаружила сильный сверхбыстрый оптический отклик, индуцированный ионизирующим излучением, что может способствовать развитию медицинской визуализации и сенсорных технологий
Сообщение от 3 сентября: исследовательская группа Стэнфордского университета и Национальной ускорительной лаборатории SLAC Министерства энергетики США с помощью сверхбыстрых электронных и лазерных импульсов наблюдала сильный сверхбыстрый оптический отклик, вызванный процессами ионизации в полупроводниковых материалах. Результаты исследования опубликованы в журнале Nature Photonics. Исследователи полагают, что это открытие может предложить новые подходы для радиографической визуализации и сенсорных технологий, а также предоставить экспериментальную основу для понимания фундаментального поведения материалов под воздействием высокоэнергетических частиц. Детектирование излучения является ключевой технологией в ускорителях частиц, научных приборах, медицинской визуализации и досмотровом оборудовании. Существующие детекторы обычно сталкиваются с компромиссом между силой сигнала и скоростью отклика: сигналы с большей силой...
2026-09-08
