В Массачусетском технологическом институте разработан сверхбыстрый рентгеновский метод измерения тепла, позволяющий наблюдать передачу тепла в многослойных структурах чипов
Исследователи из Массачусетского технологического института разработали новый метод наблюдения за передачей тепла в многослойных материалах, который позволяет точно измерять изменения тепловых потоков внутри электронных устройств, таких как компьютерные чипы. Результаты исследования опубликованы в журнале Nature Communications. По мере уменьшения размеров компьютерных чипов и постоянного роста плотности мощности перегрев устройств становится важным фактором, ограничивающим повышение производительности. Традиционные методы измерения тепловых потоков имеют ограничения при работе с многослойными структурами реальных электронных устройств: например, широко используемый метод временной термоотражения с трудом различает передачу тепла в разных слоях материалов, а инфракрасная визуализация и другие методы также не позволяют улавливать быстрые изменения в микромасштабе. Для решения этой проблемы...
2026-08-06
